电工技术学报  2022, Vol. 37 Issue (10): 2538-2548    DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211119
电力电子 |
SiC MOSFET短路保护技术综述
文阳1, 杨媛1, 宁红英1, 张瑜2, 高勇1
1.西安理工大学自动化与信息工程学院 西安 710048;
2.西安思源学院工学院 西安 710038
Review on Short-Circuit Protection Technology of SiC MOSFET
Wen Yang1, Yang Yuan1, Ning Hongying1, Zhang Yu2, Gao Yong1
1. College of Automation and Information Engineering Xi'an University of Technology Xi'an 710048 China;
2. College of Technology Xi'an Siyuan University Xi'an 710038 China
全文: PDF (2693 KB)   HTML
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摘要 随着电力电子技术的飞速发展,SiC MOSFET以优异的材料特性在高频、高压、高温电力电子应用中展现了显著的优势。然而,SiC MOSFET较高的开关速度与较弱的短路承受能力对短路保护技术带来了新的挑战。该文首先介绍SiC MOSFET不同短路类型以及短路测试方法;其次对SiC MOSFET短路失效模式及失效机理进行分析;然后详细梳理现有SiC MOSFET短路检测与短路关断技术的原理与优缺点,讨论现有SiC MOSFET短路保护技术在应用中存在的问题与挑战;最后对SiC MOSFET短路保护技术的发展趋势进行展望。
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作者相关文章
文阳
杨媛
宁红英
张瑜
高勇
关键词 SiCMOSFET短路测试短路失效短路保护    
Abstract:With the development of power electronics technology, SiC MOSFETs show significant advantages in power electronics applications of high frequency, high voltage and high temperature due to its excellent material properties. However, the high switching speed and poor short-circuit withstand capability of SiC MOSFETs bring new challenges to short-circuit protection technology. In this paper, different short-circuit fault types and testing methods of SiC MOSFETs are introduced firstly. Secondly, the short-circuit failure mode and mechanism of SiC MOSFET are analyzed. On this basis, the principle, advantages and disadvantages of the existing short-circuit detection and turn-off technology of SiC MOSFETs are summarized in detail, and the problems and challenges in the application of the current short-circuit protection technology of SiC MOSFETs are discussed. Finally, the development trend of SiC MOSFET short-circuit protection technology is prospected.
Key wordsSiC MOSFET    short-circuit test    short-circuit failure    short-circuit protection   
收稿日期: 2021-07-21     
PACS: TM46  
基金资助:国家自然基金项目(62174134)、陕西省教育厅专项科学研究计划项目(21JK0791)和陕西省创新能力支撑计划项目(2021TD-25)资助
通讯作者: 杨 媛 女,1974年生,教授,博士生导师,研究方向为电路与系统设计、宽禁带半导体器件应用等。E-mail: yangyuan@xaut.edu.cn   
作者简介: 文 阳 男,1990年生,博士,讲师,研究方向为宽禁带半导体器件驱动保护技术、状态感知与监测、失效分析及寿命预测。E-mail: wenyang@xaut.edu.cn
引用本文:   
文阳, 杨媛, 宁红英, 张瑜, 高勇. SiC MOSFET短路保护技术综述[J]. 电工技术学报, 2022, 37(10): 2538-2548. Wen Yang, Yang Yuan, Ning Hongying, Zhang Yu, Gao Yong. Review on Short-Circuit Protection Technology of SiC MOSFET. Transactions of China Electrotechnical Society, 2022, 37(10): 2538-2548.
链接本文:  
https://dgjsxb.ces-transaction.com/CN/10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211119          https://dgjsxb.ces-transaction.com/CN/Y2022/V37/I10/2538