电工技术学报  2015, Vol. 30 Issue (23): 24-31    DOI:
电力电子与电力传动 |
一种为碳化硅MOSFET设计的高温驱动电路
祁锋1, 徐隆亚1, 王江波2, 赵波2, 周哲2
1.俄亥俄州立大学 哥伦布 43210
2.国网智能电网研究院 北京 102200
A High Temperature Gate Drive Circuit for SiC MOSFET
Qi Feng1, Xu Longya1, Wang Jiangbo2, Zhao Bo2, Zhou Zhe2
1.The Ohio State University Columbus 43210 United States
2.Smart Grid Research Institute of State Grid Beijing 102200 China
全文: PDF (2484 KB)  
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 由于碳化硅材料具有宽带隙、高临界电场强度、高饱和速度和高导热率的特性,其可达到比硅器件更高的耐压值、更快的开关速度和更高的工作结温,使得碳化硅器件成为理想的新一代电力电子器件。为了满足碳化硅器件在高温情况下应用的需求,驱动电路同样需要具备高温下工作的能力。对现阶段高温驱动电路发展情况进行了总结,提出一种基于变压器隔离与高温硅基分立器件的高温驱动电路,并在OrCAD PSpice环境下对电路进行仿真分析,随后在高温箱中进行实验,对提出的高温驱动电路工作性能进行评估。
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祁锋
徐隆亚
王江波
赵波
周哲
关键词 驱动电路高温器件电路仿真高温性能    
Abstract:The outstanding semiconductor properties of SiC material,e.g.wide bandgap,high critical electric field,high saturation velocity,and thermal conductivity,promise the SiC device a new generation power electronics element with higher speed,higher voltage and,higher temperature operation potential than the silicon device.To fulfill the high temperature operation requirements from SiC device,the gate drive circuit should be designed with high temperature operation capability.This paper reviews contemporary high temperature gate drive design approaches and proposes a high temperature gate drive circuit based on transformer isolation and commercially available silicon discrete components.Performance of the designed circuit is evaluated by both computer simulations and high temperature experimental tests.
Key wordsGate drive circuit    high temperature components    circuit simulation    high temperature operation performance   
收稿日期: 2015-01-06      出版日期: 2015-12-18
PACS: TM46  
基金资助:国家电网公司“千人计划”科技项目(5355DD130003)资助。
作者简介: 祁 锋 男,1988年生,博士研究生,研究方向为高性能电力电子驱动技术。
徐隆亚 男,1949年生,教授,博士生导师,研究方向为变速驱动、发电系统和智能电网。
引用本文:   
祁锋, 徐隆亚, 王江波, 赵波, 周哲. 一种为碳化硅MOSFET设计的高温驱动电路[J]. 电工技术学报, 2015, 30(23): 24-31. Qi Feng, Xu Longya, Wang Jiangbo, Zhao Bo, Zhou Zhe. A High Temperature Gate Drive Circuit for SiC MOSFET. Transactions of China Electrotechnical Society, 2015, 30(23): 24-31.
链接本文:  
https://dgjsxb.ces-transaction.com/CN/Y2015/V30/I23/24