电磁继电器接触失效机理判别方法

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摘要传统判断电磁继电器接触失效的方法是仅监测接触压降是否超限, 因未合理利用运行过程中特性参数的变化信息, 不足以判别接触失效机理。本文通过监测继电器多个特性参数多方面获取接触失效信息, 考虑到参数变化的随机性和冗余性, 提出基于主元分析(PCA)和距离判别分析的电磁继电器接触失效机理判别方法。该方法首先对试验样品进行可靠性寿命试验并在线记录整个过程多个特性参数的变化规律。采用主元法对多特性参数构成的高维空间进行降维处理, 从中提取主要特征, 并按实际失效机理不同进行分类。最后, 以已有样品的试验数据为训练样本, 采用距离判别分析方法对新样品失效机理进行判别。该方法既避免了单参数判别信息不足, 又减小了多参数之间的相互干扰对判别过程的不利影响。

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关键词 ：电磁继电器, 主元分析, 距离判别分析, 接触失效机理

Abstract：Contact voltage drop is measured only to identify if the contacts are failure or not in traditional method for electromagnetic relays. However, many variations of characteristic parameter are neglected and the existent information is not enough to discriminate the failure mechanisms. Considering the randomness and redundancy caused by multi-parameter, a discrimination method of contact failure mechanisms based on principal component analysis (PCA) and distance discrimination analysis is proposed in this paper. Firstly, the life tests for relays are carried out and the corresponding variations of parameters are recorded. Then PCA is adopted to reduce the dimensionality and the main features are extracted. Finally, taking the data of test samples as the training specimen, the distance discrimination analysis is employed to determine the class of failure mechanisms for a new sample. Not only the insufficient discriminant information caused by single parameter is avoided but also unfavourable effects to the discriminant process due to interference among multi-parameter are weakened.

Key words： Electromagnetic relays principal component analysis distance discrimination analysis contact failure mechanisms

收稿日期: 2009-06-18 出版日期: 2014-03-04

PACS:

TM506

作者简介: 王淑娟女, 1967年生, 博士, 教授, 博士生导师, 主要研究方向为电子电路的可靠性设计与多余物检测, 特征识别技术。余琼男, 1983年生, 博士研究生, 主要从事航天继电器可靠性测试与寿命预测技术等方面的研究。

引用本文:

王淑娟, 余琼, 翟国富. 电磁继电器接触失效机理判别方法[J]. 电工技术学报, 2010, 25(8): 38-44. Wang Shujuan, Yu Qiong, Zhai Guofu. Discrimination Method of Contact Failure Mechanisms for Electromagnetic Apparatus. Transactions of China Electrotechnical Society, 2010, 25(8): 38-44.

链接本文:

http://dgjsxb.ces-transaction.com/CN/Y2010/V25/I8/38

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