电工技术学报  2026, Vol. 41 Issue (7): 2510-2520    DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.250720
电气设备及智能化 |
持续电压下环氧灌封绝缘界面缺陷危害性分析
王腾腾1, 李旭东2, 周沁昱1, 刘润宇1, 任明1
1.电工材料电气绝缘全国重点实验室(西安交通大学) 西安 710049;
2.中国工程物理研究院电子工程研究所 绵阳 621000
Analysis of the Hazard of Interface Defects in Epoxy Encapsulation Insulation under Sustained Voltage
Wang Tengteng1, Li Xudong2, Zhou Qinyu1, Liu Runyu1, Ren Ming1
1. State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment Xi’an Jiaotong University Xi’an 710049 China;
2. Institute of Electronic Engineering China Academy of Engineering Physics Mianyang 621000 China