电工技术学报  2022, Vol. 37 Issue (12): 3038-3047    DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.211003
电力电子 |
恒流驱动下基于VeE_max的IGBT模块解耦老化影响的结温测量方法
杨舒萌1,2, 孙鹏菊1, 王凯宏1, 王绪龙1, 黄旭1
1.输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学) 重庆 400044;
2.株洲中车时代半导体有限公司 株洲 412001
Junction Temperature Measurement Method of IGBT Modules Based on VeE-max Under Constant-Current Source Drive Which Decouples Fatigue Effect
Yang Shumeng1,2, Sun Pengju1, Wang Kaihong1, Wang Xulong1, Huang Xu1
1. State Key Laboratory of Power Transmission Equipment & System Security and New Technology Chongqing University Chongqing 400044 China;
2. Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co. Ltd Zhuzhou 412001 China